TecnologiaAnálise
Estudo do CEA-Liten revela novo mecanismo de degradação PID em módulos solares de média tensão
Pesquisa francesa identifica o PID-d, causado por descargas parciais, como risco crítico em sistemas acima de 1.500 V. O estudo mostra que encapsulantes TPO e EVA perdem eficiência drasticamente com o calor, enquanto o POE se mantém resistente, exigindo revisão técnica de ativos.
12/10/2026pv magazine